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경남대학교 광기전계측 실험실
| 지도교수 | 김병창 |
|---|---|
| 전공분류 | 기타(ETC) |
| 주소 | 637-701 경남 창원시 마산합포구 문화남11길 85(월영동) 경남대학교 기계자동화공학부 |
| 전화 | |
| 홈페이지 | http://mecha.kyungnam.ac.kr/labs/bckim |
실험실소개
광기전계측 실험실이란?
광기전계측실험실(OOPS!)은 광학+기계+전자공학이 결합된 광기전공학(옵토메카트로닉스:Opto-Mechatronics)을 기반으로 초정밀 시스템을 연구/개발 한다. 휴대폰, 반도체, 대형 브라운관, CD/DVD 등은 옵토메카트로닉스(Opto-Mechtronics)을 기반으로 하는 대표적인 제품들이며, 그 외 대형 선박/항공기, 자동차부품 등을 개발 또는 QC(제품관리) 분야에서 늘리 쓰이는 분야임
세부분야
머신비젼(Machine Vision) : CCD카메라를 이용한 각종 영상 획득 및 처리 기술
⇒ 전자, 반도체 제조 등의 생산현장에서 무인 자동 결함 검출의 필수 기술.
대영역 형상 측정(Large Scale Metrology) : 1m 이상의 큰 형상을 측정하는 기술
⇒ 선박/항공기/자동차 외관, 제철소의 강판 등 1~10m 크기의 형상 제조에 필수적인 기술.
미소형상 측정(Micro Scale Metrology) : 수 밀리 영역을 나노미터 정밀도로 측정하는 기술
⇒ PDP, LCD, 반도체 제조 공정에 필수적인 기술.
광학설계 (Optical Design) : 광학 시스템을 설계하고 구성하는 기술
⇒ 측정 장비 시스템 제작 및 카메라 설계에 필요한 핵심적인 기술.
연구분야
- 광학식 3차원 미세형상 측정
- 비구면 및 자유곡면 형상 측정
- 간섭계 설계 및 측정 알고리즘
- 접촉식 삼차원 측정
연구성과
See-Han Lee, Byoung-Chang Kim
Workspace and Force-Moment Transmission of a Parallel Manipulator with Variable Platform
J. of Control, Automation, and Systems Engineering, 2006 , ,Vol. 12No. 2 ,pp. 138 ~ 144(SCIE, 0:0.0
Byoung-Chang Kim, Seung-Woo Kim
Multiple-Point-Diffraction Interferometer: Error Analysis and Calibration
J. of the Optical Society of Korea, 2005 , ,Vol. 16No. 4 ,pp. 361 ~ 365(SCIE, 0:0.0
Byoung-Chang Kim, Ho-Jae Lee, Seung-Woo Kim
Multiple-Point-Diffraction Interferometer: Error Analysis and Calibration
J. of the Optical Society of Korea, 2005 , ,Vol. 16No. 4 ,pp. 361 ~ 365(SCIE, 0:0.0
Byoung-Chang Kim
Position determination using multi-lateration method
J. of Control, Automation, and Systems Engineering, 2006 , ,Vol. 12No. 9 ,pp. 856 ~ 860(SCIE, 0:0.0
Byoung-Chang Kim, Seung-Woo Kim
Point-Diffraction Interferometer for 3-D Profile Measurement of Light Scattering Rough Surfaces
J. of the Optical Society of Korea, 2003 , ,Vol. 14No. 5 ,pp. 504 ~ 508(SCIE, 0:0.0
Workspace and Force-Moment Transmission of a Parallel Manipulator with Variable Platform
J. of Control, Automation, and Systems Engineering, 2006 , ,Vol. 12No. 2 ,pp. 138 ~ 144(SCIE, 0:0.0
Byoung-Chang Kim, Seung-Woo Kim
Multiple-Point-Diffraction Interferometer: Error Analysis and Calibration
J. of the Optical Society of Korea, 2005 , ,Vol. 16No. 4 ,pp. 361 ~ 365(SCIE, 0:0.0
Byoung-Chang Kim, Ho-Jae Lee, Seung-Woo Kim
Multiple-Point-Diffraction Interferometer: Error Analysis and Calibration
J. of the Optical Society of Korea, 2005 , ,Vol. 16No. 4 ,pp. 361 ~ 365(SCIE, 0:0.0
Byoung-Chang Kim
Position determination using multi-lateration method
J. of Control, Automation, and Systems Engineering, 2006 , ,Vol. 12No. 9 ,pp. 856 ~ 860(SCIE, 0:0.0
Byoung-Chang Kim, Seung-Woo Kim
Point-Diffraction Interferometer for 3-D Profile Measurement of Light Scattering Rough Surfaces
J. of the Optical Society of Korea, 2003 , ,Vol. 14No. 5 ,pp. 504 ~ 508(SCIE, 0:0.0
프로젝트
[나노정밀도 자유곡면 형상 측정기술 개발] 한국표준과학연구원, 2006.1-2007.10
[장방형 대형 후곡판용 점진적 롤성형 시스템 개발(곡가공 측정용 기술개발)] 산업자원부,2006.10-2008.10
[홈 시큐리티용 고해상 네트워크 카메라를 위한 CCTV Lens 개발] 산업자원부, 2008.5-2009.4
[공작기계용 초정밀 saddle 개발] 창원단지혁신클러스터사업, 2009.3-2010.3
[장방형 대형 후곡판용 점진적 롤성형 시스템 개발(곡가공 측정용 기술개발)] 산업자원부,2006.10-2008.10
[홈 시큐리티용 고해상 네트워크 카메라를 위한 CCTV Lens 개발] 산업자원부, 2008.5-2009.4
[공작기계용 초정밀 saddle 개발] 창원단지혁신클러스터사업, 2009.3-2010.3
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